ČERVENKA Jiří – Aplikace rastrovací sondové mikroskopie v oblasti nanotechnologií. (Ing. Kalousek)
FIALA Jiří – iontové svazky a jejich aplikace v technologiích. (RNDr. Dittrichová)
FIEDOR Marián – Studium tenkých organických vrstev. (Doc. Šikola)
GERYKOVÁ Jana – Úprava průmyslového mikroskopu pro konfokální zobrazení. (Doc. Chmelík)
HERZIG Petr – Studium tenkých vrstev pomocí elipsometru a AFM. (RNDr. Nebojsa)
HOUSER Tomáš – Studium tenkých vrstev DM6 TET a LIF. (RNDr. Nebojsa)
JUREK Martin – Opticko-mechanický návrh soleil-babinetova kompenzátoru. (Ing. Kršek)
JUŘÍNEK Jan – Analýza povrchů pomocí termodesorpční spektroskopie. (Ing. Zlámal)
NEKULA Jan – Návrh rastrovacího tunelového mikroskopu. (Doc. Šikola)
SUCHOMEL Filip – Přenosové charakteristiky transmisního holografického mikroskopu pro dvojrozměrné objekty. (Doc. Chmelík)
SZOTKOWSKI Radek – Vývoj zařízení na principu spektroskopické reflektometrie v oblasti UV/VIS záření. (Doc. Spousta)
ŠESTÁK Petr – Vliv nitridové povrchové vrstvy na životnost oceli při biaxiálním harmonickém namáhání. (Prof. Pokluda)
TESAŘÍK Lubomír – Studium ultratenkých vrstev pomocí spektroskopie nízkoenergiových iontů. (Ing. Průša)
TOMAŠTÍK Marek – Studium ultratenkých dielektrických vrstev s vysokou permitivitou. (Doc. Šikola)
VELECKÝ Radim – Vliv vzájemných interakcí nabitých částic v intenzivních svazcích. (Doc. Lencová)
ZÁMEČNÍK Jan – Netradiční metody výpočtů difrakčních jevů v optice. (Prof. Komrska)
