DRYŠL Radek - Optickomechanický návrh výukové stavebnice interferometrů. (Ing. Kršek)
Studium interference světla v návaznosti na návrh optického uspořádání výukové stavebnice interferometrů. Návrh a optické schéma variabilní stavebnice interferometrů včetně návrhu osvětlovací části.
HORÁČEK Martin - Numerické metody obrazové analýzy pro hodnocení morfologie karbidické fáze v nadeutektoidní oceli. (Doc. Druckmüller)
Popis metod obrazové analýzy, současné trendy analýzy obrazů. Slitiny železa s uhlíkem – obecný popis, karbidy, nadeutektoidní oceli. Aplikace naprogramovaných numerických metod obrazové analýzy na experimentální materiál.
KAISER Josef - Fotometrické hodnocení CCD kamery. (Doc. Harna)
Popis prvku CCD. Struktury snímačů, vliv krycích vrstev na funkci snímačů CCD. Návrh metody zhodnocení pomocí filtrů se známými propustnostmi. Počítačová simulace osvětlení čipu kamery. Hodnocení pomocí záznamu specklového obrazu.
KREJZLÍK Tomáš - Návrh řídícího systému ultravakuové aparatury pro depozici tenkých vrstev iontovými svazky. (RNDr. Nebojsa)
Interakce elektronu s elektrostatickým a magnetickým polem. Simulace aparatury v prostředí programu SIMION 6.0. Návrh řízení a kontroly aparatury.
KUŠTERA Ivica - Návrh prvků ultravakuové aparatury pro sledování optických vlastností povrchů pevných látek za vysokých teplot. (RNDr. Šikola)
Princip měření a popis aparatury. Základní principy a typy iontových zdrojů. Metody ohřevu materiálu. Konstrukce sedlového iontového zdroje včetně počítačové simulace. UHV pícka.
LOPOUR Filip - Návrh zařízení pro sledování povrchů pevných látek v podmínkách ultravakua metodou STM/SFM. (RNDr. Šikola)
Popis rastrovací tunelové mikroskopie (STM) a rastrovací mikroskopie založené na detekci atomárních sil (SFM). Konstrukční návrh mikroskopu STM/SFM. Experimentální výsledky.
TICHOPÁDEK Petr - Návrh detekční větve elipsometru pro měření optických vlastností povrchů a tenkých vrstev in situ. (RNDr. Nebojsa)
Základní popis šíření elektromagnetické vlny, polarizovaného světla, Fresnelovy koeficienty. Optické prvky elipsometru, elipsometrie.
TŘÍSKALA Michal - Návrh detekční větve elipsometru pro měření optických vlastností povrchů a tenkých vrstev in situ. (RNDr. Nebojsa)
Základní popís záření: vlnová rovnice, intenzita světla, Fresnelovy koeficienty, odraz a lom lineárně polarizovaného světla. Elipsometrie. Konstrukční návrh elipsometru.
WOLF Tomáš- Zář osvětlovacích žárovek. (Doc. Harna)
Optoelektronické senzory s nábojově vázanou strukturou. Normálové zdroje záře. Popis charakteristiky systému kamera-videokarta několika metodami. Realizace normálu záře a měření jasu žárovky H4.
