Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
ÚFI 
ÚFI
Výuka
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
1. ročník, II. stupeň

   Povrchy a tenké vrstvy I


Vyhledávání

 

Vyhledávání osob

 

Klikněte na tlačítko Najdi ..

Mapa serveru

Odkazy:

OSA (the Optical Society) Student chapter of Czech Republic

ÚFI/Výuka/Fyzikální inženýrství a nanotechnologie/1. ročník, II. stupeň/Povrchy a tenké vrstvy I     

Povrchy a tenké vrstvy I

Přednášky z předmětu Povrchy a tenké vrstvy I

  • Obsah přednášek je inovován.

Tutorials:

Reviews of experimental texhniques as presented by students during lectures (list is  here (velikost 56.2 kB))

  1.  Photoelectron spectroscopy: XPS and UPS (velikost 387.57 kB)

  2.  Scanning probe microscopy and spectroscopy: STM, STS, manipulation (velikost 568.52 kB)

  3. Electron diffraction: LEED, RHEED

  4.  Ion scattering: LEIS, MEIS, RBS (velikost 747.5 kB)

  5.  Energy loss and vibrational spectroscopy: EELS, FTIR, Raman, (incl. imaging) (velikost 1.11 MB)

  6.  Desorption: TDS, TPMS (velikost 824.52 kB)

  7.  X-ray diffraction and scattering: XRD, XRR, SAXS (velikost 549.29 kB)

  8.  Electron microscopy: SEM, SAM (AES) (velikost 2.98 MB)

  9.  Scanning probe microscopy and advanced techniques: AFM, KFM, EFM, MFM, SNOM (velikost 1.13 MB)

  10.  Mass spectroscopy: SIMS (velikost 836.56 kB)

  11.  Electron microscopy: TEM (velikost 603.53 kB)

  12.  Optical characterization: UV/Vis, Ellipsometry, Reflectometry (velikost 848.85 kB)

  13. Synchrotron based techniques: PES, XAS, NEXAFS, XMCD, …

  14. Low Energy Electron Microscopy: LEEM

Odkazy:

© 2003 designed by RAW4U

PDVisual    Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství     Admin    Mapa serveru