Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
ÚFI 
ÚFI
Výzkum
Odbor povrchů a fyziky pevných látek
Publikace

   Příspěvky na národních konferencích


Vyhledávání

 

Vyhledávání osob

 

Klikněte na tlačítko Najdi ..

Mapa serveru

Odkazy:

OSA (the Optical Society) Student chapter of Czech Republic

ÚFI/Výzkum/Odbor povrchů a fyziky pevných látek/Publikace/Příspěvky na národních konferencích     

Příspěvky na národních konferencích

2011

  • M. Kolíbal: Watching nanowires grow, oral presentation at Microscopy 2011, Nove Mesto na Morave, February 2011.

    2010

  • M. Kolíbal, J. Mach, T. Vystavěl, T. Šikola: Patterned growth of catalytic nanoparticles utilizing focused ion beam, Ústní příspěvek na konferenci Mikroskopie 2010, Nové Město na Moravě, Únor 2009, Program, Přednášky-7, p. 15.

    2009

  • M. Urbánek: Magnetické vlastnosti ultratenkých vrstev a struktur, Zpravodaj CVS 17 (2) (2009), 2.

  • O. Tomanec, L. Šustr, L. Břínek, R. Kalousek, J. Zlámal, P. Dub a T. Šikola: Využití tenkých vrstev a mikro-nanostruktur v plazmonice, Zpravodaj CVS 17 (2) (2009), 13.

  • T. Šikola: Selective growth of metallic structures on surfaces pre-patterned by AFM and FIB, Proceedings of the Czech Workshop on Diamond nanotechnology and Science (DINAS 2009), Oral presentation, November 2009, p. 53.

    2008

  • P. Bábor: Nanosvět z pohledu iontů, sborník semináře Letní škola vakuové techniky na téma „Nanotechnologie a nanoinženýrství“, Zpravodaj CVS, 16(1) (2008), s. 12 – 19.

    2006

  • M. Urbánek, J. Spousta, T. Běhounek, R. Plšek, K. Navrátil, T. Šikola: Zobrazovací reflektometrie, Ústní prezentace na konferenci Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích: XI konference, Brno, červen 2006, Abstrakty, p. 8

  • J. Neuwirth, V. Uhlíř, M. Hála, M. Urbánek, J. Calvar, M. Marquart, J. Spousta, T. Šikola: Výzkum tenkých a ultratenkých vrstev Co využitím magnetooptického Kerrova jevu, Ústní prezentace na konferenci Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích: XI konference, Brno, červen 2006, Abstrakty, p. 21

    2004

  • J. Čechal, T. Šikola: A study of oxygen influence on PtSi formation by SR–PES, Proceedings of the conference New Trends in Physics, VUT v Brně, Brno 2004, p. 218 – 221

  • R. Kalousek, J. Červenka, M. Bartošík, D. Škoda, T. Šikola: Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation, Proceedings of the conference New Trends in Physics, VUT v Brně, Brno 2004, p. 226 – 229

  • M. Kolíbal, S. Průša, P. Bábor, M. Bartošík, O. Tomanec, M. Draxler, P. Bauer, T. Šikola: Growth of gallium on silicon: A ToF-LEIS and AFM study, Proceedings of the conference New Trends in Physics, VUT v Brně, Brno 2004, p. 230 – 233

  • T. Šikola: Nanotechnology – vision or reality?, Proceedings of the conference New Trends in Physics, VUT v Brně, Brno 2004, p. 262 – 265

  • S. Voborný, J. Mach, M. Kolíbal, J. Čechal, P. Bábor, M. Potoček, T. Šikola: A Study of Early Periods of GaN Ultrathin Growth, Proceedings of the conference New Trends in Physics, VUT v Brně, Brno 2004, p. 270 – 273

  • T. Šikola: Scanning Probe Microscopy based on Force Fields – present state and perspectives, Invited talk at the 4th Workshop on Scanning Probe Microscopy (SPM 04), Lázně Bohdaneč, September 2004, Book of Abstracts

  • M. Bartošík, J. Červenka, D. Škoda, K. Maturová, R. Kalousek, T. Šikola: Local oxidation by AFM and its application for fabrication of nanoelectronic components (in Czech), Oral presentation at the 4th Workshop on Scanning Probe Microscopy (SPM 04), Lázně Bohdaneč, September 2004, Book of Abstracts

    2003

  • P. Bábor: Hloubkové profilování a 2D SIMS – současný stav, zvaná přednáška, sborník semináře Letní škola vakuové techniky, Šumava – Horská Kvilda, Květen 2003, Zpravodaj CVS, 11(2) (2003), s. 23 – 28

  • T. Šikola: Nanotechnologie – současný stav, zvaná přednáška, sborník semináře Letní škola vakuové techniky, Šumava – Horská Kvilda, Květen 2003, Zpravodaj CVS, 11(2) (2003), s. 29 – 32

  • R. Kalousek, D. Škoda, M. Bartošík a T. Šikola: AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie, zvaná přednáška, sborník semináře Letní škola vakuové techniky, Šumava – Horská Kvilda, Květen 2003, Zpravodaj CVS, 11(2) (2003), s. 47 – 49

    2002

  • J. Vais, J. Ženíšek, L. Dittrichová, P. Bábor, M. Urbánek, J. Spousta, T. Šikola: A study of Magnetic Multilayers, sborník konference NANO´02, VUT v Brně, Brno, Listopad 2002

  • T. Šikola: Tenké vrstvy v nanotechnologiích, příspěvek na semináři Nanotechnologie a její místo v moderní výrobě, Kongresové centrum, Brno, Září 2002

  • J. Čechal, P. Jurkovič, P. Bábor, L. Dittrichová a T. Šikola: Depth Profile Analysis of Ultrathin Films by AR XPS, Posterová prezentace na konferenci NANO´02, Brno, Listopad 2002

    2001

  • T. Šikola: Surfaces and Interfaces – Presence and Perspectives, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 74

  • R. Kalousek, C. Konvicka, M. Schmid: UHV STM – a Technique for Studies of Atomic Surface Structures, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 78

  • F. Lopour, D. Škoda: Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 82

  • S. Průša, P. Bábor, S. Voborný, T. Šikola: Ion Scattering spectroscopy – a tool for surface analysis, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 86

  • P. Tichopádek, J. Čechal, A. Nebojsa: Ellipsometry – A Tool for Surface and Thin Film Analysis, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 102

  • P. Bábor: Analýza povrchů tenkých vrstev metodou SIMS, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 131

  • M. Urbánek, J. Zlámal: In situ plošné monitorování optických vlastností tenkých vrstev připravovaných metodou IBAD, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 274

  • S. Voborný, J. Zlámal, P. Bábor: Deposition of Ultrathin Films – Optimalisation of Ion Beam Optics, sborník konference Juniormat ‘01, FSI VUT v Brně, Brno 2001, s. 281

  • S. Voborný, J. Zlámal, P. Bábor, S. Průša, T. Šikola: Diagnostics and Optimalisation of Ion Source Parameters, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 304

  • P. Jurkovič, J. Čechal, P. Bábor, T. Šikola: Studium ultratenkých vrstevnatých struktur, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 364

  • R. Kalousek, V. Buš, D. Škoda, T. Šikola: Noncontact Scanning Force Microscopy – Principles and Simulations, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 369

  • F. Lopour, D. Škoda, T. Šikola: Fabrication of nanostructures by AFM Local Oxidation, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 394

  • K. Pátík, F. Lopour, T. Šikola: Design of Piezoceamic Manipulators For an Application in SPM Instriments, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 400

  • S. Průša, P. Bábor, T. Šikola: Application of ToF – LEIS for Analysis of Surfaces and Ultrathin Films, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 404

  • P. Tichopádek, J. Čechal, A. Nebojsa, T. Šikola: Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultra – Thin Film Analysis, sborník konference Nové trendy ve fyzice, FEI VUT v Brně, Brno 2001, s. 415

  • T. Šikola: Spektroskopie rozptýlených iontů o nízkých energiích (ISS), sborník semináře Letní škola vakuové techniky, Žďárské vrchy – Mílovy, Květen 2001, s. 39

  • T. Šikola: Rastrovací sondová mikroskopie – SPM, sborník semináře Letní škola vakuové techniky, Žďárské vrchy – Mílovy, Květen 2001, s. 45

  • S. Průša, P. Bábor, S. Voborný, J. Čechal, P. Jurkovič, J. Spousta, T. Šikola: Application of TOF – LEIS and XPS for Surface Studies, Prezentace na konferenci Materials Structure & Micromechanics of Fracture, Brno, Červen 2001

  • R. Kalousek, M. Schmid: A study of Metallic Surfaces by UHV STM, Prezentace na konferenci Materials Structure & Micromechanics of Fracture, Brno, Červen 2001

  • F. Lopour, D. Škoda, T. Šikola: AFM – a Tool for a Study of Surfaces and Micro/Nanostuktures, Prezentace na konferenci Materials Structure & Micromechanics of Fracture, Brno, Červen 2001

    2000

  • P. Bábor: In-situ monitorování povrchu pevných látek bombardovaných iontovým svazkem – návrh energiového filtru pro aplikaci v SIMS, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 13 – 16

  • V. Buš: Ab-inicio výpočty elektronových struktur povrchů – posouzení adsorbce CO na povrchové slitině PtCo (111, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 41 – 43

  • J. Jiruše: Analýza struktury povrchů materiálů metodou difrakce pomalých elektronů (LEED), II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 121 – 124

  • F. Lopour, R. Kalousek: Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 177 – 180

  • S. Průša: Monitorování povrchů pevných vzorků a ultratenkých vrstev pomocí ToF spektroskopie, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 263 – 266

  • M. Tengel, A. Nebojsa: Termochemická analýza jakosti povrchu regenerovaných ostřiv, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 325 – 328

  • P. Tichopádek: In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 329 – 332

  • M. Urbánek: Zařízení pro in-situ plošné monitorování homogenity tenkých vrstev, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 333 – 336

  • S. Voborný, J. Zlámal: Optimalizace plazmatického iontového zdroje pro přímou depozici tenkých vrstev, II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI, Brno 2000, s. 353 – 356

  • T. Šikola, F. Lopour, R. Kalousek, D. Škoda: A Study of Surfaces by STM/AFM, Sborník konference 6. seminář Fyzika a chemie molekulárních systémů, Chemická fakulta VUT v Brně, Prosinec 2000

  • T. Šikola, J. Spousta, L. Dittrichová, J. Zlámal, F. Lopour, P. Tichopádek, A. Nebojsa, J. Král, D. Rafaja, L. Ranno: Deposition of Thin Films/Multilayers by IBAD, Oral presentation at METAL 2000, Ostrava, May 2000

  • M. Urbánek, J. Spousta, T. Šikola, J. Zlámal, J. Jiruše, R. Chmelík: Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev, Příspěvek na konferenci Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích, Brno, Červen 2000

  • F. Lopour, R. Kalousek, D. Škoda, F. Matějka, T. Šikola: Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM, Prezentace na konferenci 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách, Lázně Bohdaneč, Září 2000

  • F. Matějka, J. Matějková, F. Lopour: Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM, Prezentace na konferenci 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách, Lázně Bohdaneč, Září 2000

  • R. Kalousek, F. Lopour a T. Šikola: Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM – simulace oscilací raménka, Prezentace na konferenci 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách, Lázně Bohdaneč, Září 2000

    1999

  • T. Šikola, J. Spousta, L. Dittrichová, J. Zlámal, S. Průša, F. Lopour: Aplikace iontových svazků pro modifikaci povrchů, depozici tenkých vrstev a jejich in situ analýzu, Oral Presentation at the conference Škola vákuovej techniky 1999, Bystrianska dolina, May 1999, Ed. by V. Dubravcová, J. Řepa, Proceedings

  • J. Zlámal: Simulation of Low Energy Ion Beams, Poster presentation at the International Summer School on New Trends in Surface and Thin Films Physics and Engineering, Tři Studně, June 1999, Proceedings

  • S. Průša: Time-of-Flight Low Energy Ion Scattering Spectroscopy, Poster presentation at the International Summer School on New Trends in Surface and Thin Films Physics and Engineering, Tři Studně, June 1999, Proceedings

  • R. Kalousek: Noncontact Atomic Force Microscopy – Interaction of the Cantilever with a Surface, Poster presentation at the International Summer School on New Trends in Surface and Thin Films Physics and Engineering, Tři Studně, June 1999, Proceedings

  • P. Tichopádek, A. Nebojsa, M. Třískala, J. Jiruše, R. Roučka, T. Šikola: In-situ ellipsometry, Poster presentation at the International Summer School on New Trends in Surface and Thin Films Physics and Engineering, Tři Studně, June 1999, Proceedings

    1998

  • T. Šikola, J. Spousta, L. Dittrichová, M. Stránský, A. Nebojsa, F. Matějka, D. Rafaja, L. Ranno: Deposition and Modification of thin films grown by IBAD, Proceeding of the Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF–2), VUT v Brně, Brno 1998, p. 26

  • J. Zlámal, S. Průša, P. Bábor, S. Voborný, J. Hájek: In-situ Analysis of Surfaces and Thin Films I, Proceeding of the Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF–2), VUT v Brně, Brno 1998, p. 63

  • F. Lopour, R. Kalousek, J. Jiruše, R. Roučka, M. Třískala, P. Tichopádek: In-situ Analysis of Surfaces and Thin Films II, Proceeding of the Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF–2), VUT v Brně, Brno 1998, p. 64

    1997

  • R. Kalousek, T. Šikola, F. Lopour, L. Tůma: Development of STM technique-analysis of the tip-surface interaction, Proceedings of the Workshop ´97, ČVUT, Praha 1997, p.119

  • T. Šikola, J. Spousta, J. Zlámal, S. Průša, F. Lopour, R. Kalousek, M. Třískala, P. Tichopádek, T. Krejzlík, A. Nebojsa, B. Lencová: Ion beam thin film deposition, surface and thin film analysis, Proceedings of the Workshop ´97, ČVUT, Praha 1997, p.117

    1996

  • J. Štefka, T. Šikola, L. Dittrichová, J. Spousta, F. Matějka: Simulation and measurement of the current profile of broad ion beams, Proceedings of the 4th Electronic Devices and Systems Conference (EDS´96), VUT v Brně, June 1996, p. 196 – 198

  • J. Spousta, W. Dejmek, Z. Harna, A. Nebojsa, T. Šikola, M. Jákl: In situ interferometric thickness measurement of deposited thin films, Proceedings of the Workshop ´96, VUT v Brně, Brno 1996, p. 97

  • T. Šikola, J. Spousta, L. Dittrichová, L. Tůma, F. Matějka, R. Kalousek, F. Lopour: Surface analysis of materials - design of the atomic force detector for atomic force microscopy, Proceedings of the Workshop ´96, VUT v Brně, Brno 1996, p. 99

  • T. Šikola, P. Dub, J. Jiruše, A. Nebojsa, J. Hájek, R. Češka: Particle scattering on solid surfaces, Proceedings of the Workshop ´96, VUT v Brně, Brno 1996, p. 587

  • T. Šikola, J. Spousta, L. Dittrichová, F. Matějka, D. Janová, A. Nebojsa, A. Buchal, R. Češka, I. Kuštera, J. Štefka: Ion beam modification of ceramic surfaces and deposition of thin films, Proceedings of the Workshop ´96, VUT v Brně, Brno 1996, p. 589



    zpět

  • © 2003 designed by RAW4U

    PDVisual    Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství     Admin    Mapa serveru