ÚFI/Výuka/Fyzikální inženýrství a nanotechnologie/2. ročník, II. stupeň/Diagnostika nanostruktur     

Diagnostika nanostruktur

Obsah předmětu:

Předmět se zaměřuje na vysvětlení fyzikálních principů diagnostiky 1D a 0D nanostruktur vhodné pro zjišťování jejich morfologických a strukturních parametrů, jakož i lokálních vlastností. Jsou popisovány jednotlivé metody, zásady jejich výběru a optimalizace z hlediska zvýšení laterálního rozlišení. Vedle rastrovacích sondových mikroskopických metod (STM/STS, AFM, EFM, MFM, SNOM aj.) a elektronových a iontových mikroskopií (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.) budou diskutovány i optické mikroskopické spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence) a nakonec kombinace zmíněných metod (STL, katodoluminiscence, TERS aj.). Podle možností jsou některé metody rovněž demonstrovány a prakticky vyzkoušeny.

Hodnocení:

Hodnocení studenta bude zohledňovat jeho práci ve cvičení a výsledky diskuze nad zadanými tématy při kolokviu.

Rozpis přednášek - 2019

Date:  Time:  Lecturer:       Room:
7/2    9:00   V. Křápek       A5/U4 (FME, Technická 2)
14/2   9:00   T. Šikola       A5/U4 (FME, Technická 2)
21/2   9:00   M. Kolíbal      A5/U4 (FME, Technická 2)
28/2   9:00   J. Čechal       Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)
7/3    9:00   V. Uhlíř        Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)
14/3   9:00   O. Sháněl       A5/U4 (FME, Technická 2)
21/3   9:00   P. Neugebauer   Building C, 2.11 (CEITEC, Purkyňova 123)
28/3   ---
4/4    9:00   P. Bábor        A5/U4 (FME, Technická 2)
5/4    10:00  S. Průša        A5/U4 or A2/201 (FME, Technická 2)
11/4   9:00   M. Urbánek      Building C, 2.11 (CEITEC, Purkyňova 123)
18/4   9:00   P. Procházka    A5/U4 (FME, Technická 2)
25/4   9:00   M. Bartošík     A5/U4 (FME, Technická 2)
2/5    ---
9/5    9:00   A. Schell       Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)