 ÚFI/Výuka/Fyzikální inženýrství a nanotechnologie/2. ročník, II. stupeň/Diagnostika nanostruktur 
Diagnostika nanostruktur
Obsah předmětu:
Předmět se zaměřuje na vysvětlení fyzikálních principů diagnostiky 1D a 0D nanostruktur vhodné pro zjišťování jejich morfologických a strukturních parametrů, jakož i lokálních vlastností. Jsou popisovány jednotlivé metody, zásady jejich výběru a optimalizace z hlediska zvýšení laterálního rozlišení. Vedle rastrovacích sondových mikroskopických metod (STM/STS, AFM, EFM, MFM, SNOM aj.) a elektronových a iontových mikroskopií (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.) budou diskutovány i optické mikroskopické spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence) a nakonec kombinace zmíněných metod (STL, katodoluminiscence, TERS aj.). Podle možností jsou některé metody rovněž demonstrovány a prakticky vyzkoušeny.
Hodnocení:
Hodnocení studenta bude zohledňovat jeho práci ve cvičení a výsledky diskuze nad zadanými tématy při kolokviu.
Studijní materiály některých přednášejících:
|
