ÚFI/Výuka/Fyzikální inženýrství a nanotechnologie/2. ročník, II. stupeň/Diagnostika nanostruktur
Diagnostika nanostruktur
Obsah předmětu:
Předmět se zaměřuje na vysvětlení fyzikálních principů diagnostiky 1D a 0D nanostruktur vhodné pro zjišťování jejich morfologických a strukturních parametrů, jakož i lokálních vlastností. Jsou popisovány jednotlivé metody, zásady jejich výběru a optimalizace z hlediska zvýšení laterálního rozlišení. Vedle rastrovacích sondových mikroskopických metod (STM/STS, AFM, EFM, MFM, SNOM aj.) a elektronových a iontových mikroskopií (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.) budou diskutovány i optické mikroskopické spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence) a nakonec kombinace zmíněných metod (STL, katodoluminiscence, TERS aj.). Podle možností jsou některé metody rovněž demonstrovány a prakticky vyzkoušeny.
Hodnocení:
Hodnocení studenta bude zohledňovat jeho práci ve cvičení a výsledky diskuze nad zadanými tématy při kolokviu.
Rozpis přednášek - 2019
Date: Time: Lecturer: Room:
7/2 9:00 V. Křápek A5/U4 (FME, Technická 2)
14/2 9:00 T. Šikola A5/U4 (FME, Technická 2)
21/2 9:00 M. Kolíbal A5/U4 (FME, Technická 2)
28/2 9:00 J. Čechal Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)
7/3 9:00 V. Uhlíř Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)
14/3 9:00 O. Sháněl A5/U4 (FME, Technická 2)
21/3 9:00 P. Neugebauer Building C, 2.11 (CEITEC, Purkyňova 123)
28/3 ---
4/4 9:00 P. Bábor A5/U4 (FME, Technická 2)
5/4 10:00 S. Průša A5/U4 or A2/201 (FME, Technická 2)
11/4 9:00 M. Urbánek Building C, 2.11 (CEITEC, Purkyňova 123)
18/4 9:00 P. Procházka A5/U4 (FME, Technická 2)
25/4 9:00 M. Bartošík A5/U4 (FME, Technická 2)
2/5 ---
9/5 9:00 A. Schell Building C, 2nd floor (CEITEC, Purkyňova 123)
|