Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie Ústav fyzikálního inženýrství - obor Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
ÚFI 
ÚFI
Výuka
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
2. ročník, II. stupeň

   Diagnostika nanostruktur


Vyhledávání

 

Vyhledávání osob

 

Klikněte na tlačítko Najdi ..

Mapa serveru

Odkazy:

OSA (the Optical Society) Student chapter of Czech Republic

ÚFI/Výuka/Fyzikální inženýrství a nanotechnologie/2. ročník, II. stupeň/Diagnostika nanostruktur     

Diagnostika nanostruktur

Obsah předmětu:

Předmět se zaměřuje na vysvětlení fyzikálních principů diagnostiky 1D a 0D nanostruktur vhodné pro zjišťování jejich morfologických a strukturních parametrů, jakož i lokálních vlastností. Jsou popisovány jednotlivé metody, zásady jejich výběru a optimalizace z hlediska zvýšení laterálního rozlišení. Vedle rastrovacích sondových mikroskopických metod (STM/STS, AFM, EFM, MFM, SNOM aj.) a elektronových a iontových mikroskopií (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.) budou diskutovány i optické mikroskopické spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence) a nakonec kombinace zmíněných metod (STL, katodoluminiscence, TERS aj.). Podle možností jsou některé metody rovněž demonstrovány a prakticky vyzkoušeny.

Hodnocení:

Hodnocení studenta bude zohledňovat jeho práci ve cvičení a výsledky diskuze nad zadanými tématy při kolokviu.

Studijní materiály některých přednášejících:

© 2003 designed by RAW4U

PDVisual    Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství     Admin    Mapa serveru